
此夹具为箱内测试4点弯曲夹具。上夹具通过带有锁紧螺母的M12螺纹与上横梁连接,下夹具通过固定盘与下横梁连接。上夹具有20mm/30mm/40mm的固定跨距选择,下夹具有40mm/50mm/60mm的固定跨距选择。样品平放于下夹具两侧跨距支点上,上夹具以一定试验速度与样品接触进行四点弯曲试验。
特点
特点1:操作简单,维护保养方便。
特点2:满足需要箱内测试的样品。
特点2:可满足500N以下试验力的电子元器件的4点弯曲试验。
规格
500N
此夹具为箱内测试4点弯曲夹具。上夹具通过带有锁紧螺母的M12螺纹与上横梁连接,下夹具通过固定盘与下横梁连接。上夹具有20mm/30mm/40mm的固定跨距选择,下夹具有40mm/50mm/60mm的固定跨距选择。样品平放于下夹具两侧跨距支点上,上夹具以一定试验速度与样品接触进行四点弯曲试验。
特点1:操作简单,维护保养方便。
特点2:满足需要箱内测试的样品。
特点2:可满足500N以下试验力的电子元器件的4点弯曲试验。
500N